用X射線可更大范圍檢測(cè)空瓶。HEUFT獨(dú)有的脈沖輻射測(cè)量可使空瓶的在線檢測(cè)范圍更大及更加精確。

LED閃光燈，高性能照相機(jī)和實(shí)時(shí)圖像處理用于從瓶底到瓶口的所有表面的全面檢測(cè)，紅外線和高頻技術(shù)用于檢測(cè)油、清漆和殘留堿液：這足以保證在空瓶檢測(cè)過(guò)程中的全面檢測(cè)可靠性！通常是：僅使用這些技術(shù)，HEUFT InLine II IXS可以在操作設(shè)置中檢測(cè)到高達(dá)百分之百的所有相關(guān)缺陷，誤剔除率幾乎為零。

但對(duì)HEUFT來(lái)說(shuō)還是不夠的。特別是在處理瓶底異物時(shí)，這些異物可能會(huì)對(duì)最終消費(fèi)者造成真正的危害：玻璃碎片。根據(jù)它們的大小、形狀和位置，它們通常很容易被光學(xué)元件探測(cè)到。不過(guò)，據(jù)Versuchs- und Lehranstalt für Brauerei（VLB-釀酒研究和教育研究所）的業(yè)績(jī)記錄顯示，配合HEUFT獨(dú)家提供的脈沖X射線技術(shù)，將高出29%的可能性。

VLB的最新技術(shù)  因此，VLB已將高級(jí)設(shè)備整合到其位于柏林的全新超現(xiàn)代培訓(xùn)中心的“Wilfried Rinke Technikum”中：據(jù)說(shuō)，這使這所有名的研究所能夠“繼續(xù)進(jìn)行最高水平的飲料灌裝和包裝方面的培訓(xùn)[……]，并向?qū)W生傳授有關(guān)直接在設(shè)備上進(jìn)行空瓶檢測(cè)的最新技術(shù)”。更多的是：“HEUFT InLine II IXS的獨(dú)特特征是附加的X射線瓶底檢測(cè)，這進(jìn)一步提高了瓶底區(qū)域的玻璃碎片和其他物體時(shí)的檢測(cè)率”。

對(duì)于特別困難的情況尤其如此，例如被殘留液體包圍的微小玻璃碎片。因?yàn)檫@些異物的密度比它們所處的液體的密度要高。因此，相比僅僅使用照相機(jī)技術(shù)，X射線閃光燈更容易識(shí)別它們。也就是說(shuō)，跟人眼識(shí)別一樣，殘留液表面張力會(huì)削弱檢測(cè)性能：它模糊了突出的邊緣，削弱了對(duì)比度，因此在單純的光學(xué)檢查過(guò)程中，瓶底的一些玻璃碎片會(huì)被忽略，尤其是無(wú)色透明碎片。

不僅僅在玻璃瓶中檢測(cè)玻璃時(shí)更精確  效果不影響X射線檢測(cè)。與傳統(tǒng)的X射線掃描儀相比，獨(dú)特的脈沖輻射測(cè)量提供了更高的清晰度。即使在高傳輸速度下，運(yùn)動(dòng)模糊也不會(huì)影響精度，因?yàn)椴粫?huì)發(fā)射連續(xù)光束而只有很短的X射線閃光：即使是最小的碎片也清晰可見(jiàn)。使用HEUFT reflexx2進(jìn)行X射線圖像實(shí)時(shí)處理時(shí)，如果它們位于滾花標(biāo)記上或中間，單純的光學(xué)很難區(qū)分，而因使用特殊的窗口和過(guò)濾器同樣可以做到。

然而，照相機(jī)和X射線技術(shù)的結(jié)合，不僅使困難的玻璃瓶中玻璃檢測(cè)變得不同。即使是金屬和玻璃中的氣泡、或貝殼狀的破口及瓶底外邊緣的上的缺口，都能更容易地被識(shí)別。這些帶有審美缺陷的空瓶是否需要剔除取決于每個(gè)瓶裝廠各自的質(zhì)量要求——工廠可以通過(guò)使用HEUFT reflexx2判定其合格或者不合格。

如果有機(jī)會(huì)的話，仔細(xì)研究一下，就會(huì)覺(jué)得這非常值得。因此，許多客戶決定支持裝有X射線的HEUFT InLine II IXS。因此，所有的相關(guān)缺陷都已通過(guò)空瓶檢測(cè)的常規(guī)流程進(jìn)行了可靠的檢測(cè)。當(dāng)需要對(duì)模塊化系統(tǒng)中獨(dú)特的脈沖X射線技術(shù)進(jìn)行簡(jiǎn)單的改造時(shí)，其檢測(cè)范圍可以更大——不僅僅是用于復(fù)雜的玻璃瓶中玻璃檢測(cè)！