SIKORA公司研發(fā)出一套新型系統(tǒng)，采用X射線及光學技術相結合的方式，可對聚合物材料進行100%的檢測，檢測到的雜質將被自動剔除。該檢測原理適用于TPE及其它不同材料，在一般流動速率下，可檢測小到50μm的雜質或異物，使金屬、有機污染物和異物的檢測和分離得以實現。此外，該系統(tǒng)還可檢測添加劑的分布，尤其是對于復合材料生產過程，可避免后續(xù)的添加劑結塊及混合不均勻情況的產生。

通過采用X射線檢測技術，可對透明及不透明的塑料顆粒進行雜質檢測。其基本原理是X射線對原材料與雜質（或異物），有不同的衰減率。X射線的衰減率(μ)主要取決于元素的原子量，并與原子序數的三次方成比例(μ～Z3)。塑料制品主要由碳構成(Z=6)，因此衰減率很低。鐵雜質的衰減率相對較強(Z=26)，可被清晰地檢測到并剔除。二氧化鈦團塊與周圍材料的散布形成顯著的反差，這是因為在二氧化鈦中鈦(Z=22)與塑料的吸收率有很大的差別。最后，通過特殊的處理和數學運算模塊，雜質或異物被識別并最終被剔除。該系統(tǒng)通過采用新穎的光學設計技術，為材料檢測提供了特殊的散射光，通過光學檢測單元可檢測到極小的雜質。為在工業(yè)生產速度下對材料流進行精確的檢測，該系統(tǒng)還采用了先進的成像技術，通過X射線和光學技術檢測到的雜質，經由性能強大的圖像處理軟件辨識，并最終被分離。為避免外部污染物，該系統(tǒng)在掃描機分離系統(tǒng)中采用了密閉式的震動坡道。該設計確保了環(huán)境空氣中的污染物不會進入到檢測區(qū)域中去，甚至可在系統(tǒng)內部導入正壓，從而避免外部污染物進入檢測系統(tǒng)內部。